A deterministic method study of the impact of the Pauli principle in double-gate MOSFETs
Kai, Zhao; Jungemann, Christoph; Xiao-Yan, Liu
Beijing : Science Press [u.a.] (2012)
Fachzeitschriftenartikel
In: Chinese physics letters
Band: 21
Heft: 11
Seite(n)/Artikel-Nr.: 118501
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1088/1674-1056/21/11/118501
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-CONV-072618